PPT Slide

Metode SCAN testiranja:

BOUNDARY SCAN - dodavanje skanabilnih transparentnih leceva pinovima cipa omogucuje INTERNAL I EXTERNAL TESTING

PARTIAL SCAN - omogucava testiranje ciljnih gresaka, koristi se samo deo ff kola

Da bi kolo moglo da poseduje ovaj model testiranja mora da ima ugradjen TEST ACCESS PORT (IEEE 1149.1) koji se sastoji od pet pina:

test clock

test mode

test data in

test data out

test reset(opciono

Previous slide Next slide Back to first slide View graphic version